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更多>>什么是晶振電路匹配電容
來源：http://www.sedorisc.com 作者：康華爾電子 2017年12月19
什么是晶振匹配電容測試?如果系統(tǒng)由于晶體/振蕩器不合適而不能正常工作,頻率偏差不符合規(guī)范,則匹配測試是解決這些問題的有效方法.
A.振蕩電路的測試方法
1.振蕩頻率的測量
2.驅(qū)動水平的測量
驅(qū)動電平等于運(yùn)行石英晶體的功耗。 如圖所示
下面，用電流探針測量流入晶體的電流（Ix）。
功率（驅(qū)動電平）的計(jì)算公式：
DL（功率）=（Ix）2×Re; 其中Ix：有效電流值（rms），
Re：有效電阻，Re = R1 x（1 + C0 / CL）2，R1：串聯(lián)電阻
3.負(fù)阻的測量
負(fù)阻用于確定振蕩電路的振蕩容限
并預(yù)測振蕩的穩(wěn)定性。 如下圖所示，連接一個(gè)可變電阻
（VR）串聯(lián)到晶體，然后逐漸增大電阻。 水晶會的
停止振蕩一定的值。
負(fù)阻（-R）的計(jì)算公式：
|-R| = VR + Re，Re = R1×（1 + C0 / CL）2，R1：串聯(lián)電阻
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